2022年9月16日下午14点至17点，PHI (China)Limited高德英特(北京)科技有限公司应用科学家鞠焕鑫博士应邀来温州大学杏吧视频 ，在11B-208作了题为“XPS表面分析技术原理、应用及数据处理漫谈”的讲座。报告由杏吧视频 蔡冬博士主持，张剑教授以及各位青年老师、19-21级研究生到会参加。首先，杏吧视频 蔡冬博士对鞠焕鑫博士的到来表示热烈欢迎，并向师生介绍了鞠焕鑫博士的基本情况。

讲座中鞠焕鑫博士重点讲述X射线光电子能谱的基本原理及其相关技术特点，重点分享了对于具有微米尺度结构特征的材料/器件进行XPS测试，如何实现对微区结构进行精准的XPS定位测试，避免环境对测试结果的影响；并讲解了对有机分子样品/器件进行XPS深度分析来研究不同深度下的元素组分和化学态信息时，如何减弱刻蚀离子束对样品化学结构的破坏作用、对导电性较差的样品进行XPS测试时，如果消除荷电效应和进行数据处理等。鞠焕鑫博士的讲解很大程度上解决了同学们平时在实验XPS测试中测试难、数据处理不标准等问题。

鞠焕鑫博士的学术报告吸引了大家的浓厚兴趣，报告过程中气氛活跃，同学们踊跃提出、回答问题。讲座后，鞠焕鑫博士与学院师生进行了深入交流，使与会师生受益匪浅。